芯片測試裝置在運行前需要了解其相關測試知識，那么，關于無錫冠亞芯片測試裝置的相關測試大家了解多少呢？

　　芯片測試裝置電位器的好壞判別，先測電位器的標稱阻值。用萬用表的歐姆擋測“1”、“3”兩端(設“2”端為活動觸點)，其讀數(shù)應為電位器的標稱值，如萬用表的指針不動、阻值不動或阻值相差很多，則表明該電位器已損壞。再檢查電位器的活動臂與電阻片的接觸是否良好。用萬用表的歐姆擋測“1”、“2”或“2”、“3”兩端，將電位器的轉(zhuǎn)軸按逆時針方向旋至接近“關”的位置，此時電阻應越小越好，再徐徐順時鐘旋轉(zhuǎn)軸柄，電阻應逐漸增大，旋至上端位置時，阻值應接近電位器的標稱值。

　　測量大容量電容的漏電電阻，用500型萬用表置于R×10或R×100擋，待指針指向較大值時，再立即改用R×1k擋測量，指針會在較短時間內(nèi)穩(wěn)定，從而讀出漏電電阻阻值。

　　判別紅外接收頭引腳，萬用表置R×1k擋，先假設接收頭的某腳為接地端，將其與黑表筆相接，用紅表筆分別測量另兩腳電阻，對比兩次所測阻值(一般在4～7k Q范圍)，電阻較小的一次其紅表筆所接為+5V電源引腳，另一阻值較大的則為信號引腳。反之，若用紅表筆接已知地腳，黑表筆分別測已知電源腳及信號腳，則阻值都在15kΩ以上，阻值小的引腳為+5V端，阻值偏大的引腳為信號端。如果測量結(jié)果符合上述阻值則可判斷該接收頭完好。

　　判斷無符號電解電容性，先將電容短路放電，再將兩引線做好A、B標記，萬用表置R×100或R×1k擋，黑表筆接A引線，紅表筆接B引線，待指針靜止不動后讀數(shù)，測完后短路放電；再將黑表筆接B引線，紅表筆接A引線，比較兩次讀數(shù)，阻值較大的一次黑表筆所接為正，紅表筆所接為負。

　　芯片測試裝置在了解其相關測試之后，在運行中多多注意其保養(yǎng)工作，更好的運行芯片測試裝置。（本文來源網(wǎng)絡，如有侵權(quán)請聯(lián)系無錫冠亞刪除，謝謝。）